输入 24V 降压 5V/3.3V 方案测试报告
PW2153 /PW2205 /PW2330 /PW2335 /PW2312B /PW2312 /PW2458 / PW8600 / PW75XX 实测对比
测试项：转换效率 ·热性能·静态功耗·典型应用 测试条件： Vin=24V, Vout=5V/3.3V
聚焦多品类电源管理芯片，模拟工业与车载真实工况，开展全方位性能验证与对比分析
01
测试对象：覆盖多品类电源管理芯片
l
异步降压
DC-DC
：
PW2153 (8V-150V)
、
PW2815 (4.5V-80V)
、
PW2312B (5.5V-60V)
l
同步降压
DC-DC
：
PW2458 (3.8V-36V)
、
PW2205 (4.5V-30V)
、
PW2330 (4.5V-30V)
、
PW2335 (4.5V-30V)
、
PW2312 (4V-30V)
l
LDO
线性稳压器：
PW8600 (3V-80V)
、
PW75XX
系列
(3V-36V)
，适配低噪声稳压需求
02
核心测试项目：多维度性能验证
① 芯片核心规格与电气参数的一致性对比分析，确保参数标称值匹配度
② 典型应用电路拓扑解析，评估实际
PCB
布线的适配性与抗干扰能力
③ 转换效率
(
η
)
实测：对比满载、轻载及动态负载下的能效表现差异
④ 热性能分析
(Tj)
：高温环境下的结温变化、散热特性及热稳定性测试
⑤ 空载静态电流
(IQ)
测试：低功耗待机状态下的电流消耗，验证节能特性
03
测试环境条件：模拟真实工业
/
车载场景
输入条件：
Vin = 24V
（精准模拟工业总线供电、汽车电子电源系统的典型电压）
输出条件：
Vout = 5.0V / 3.3V
（满足主流
MCU
、传感器、控制模块的供电需求）
一、测试目的与内容概览
PW2312B
小型化异步降压
l
采用
SOT23-6L
超微型封装，极大节省
PCB
空间，适合穿戴设备、小型模组等体积受限场景。
l
内置功率
MOSFET
，外围电路极简，有效降低
BOM
成本与布线复杂度。
PW2458
同步降压转换器
l
集成低导通电阻
MOSFET
，转换效率优异，降低系统发热，提升续航表现。
l 宽电压输入范围与丰富的保护功能，性能均衡，适配各类工业与消费电子场景。
应用场景总结：
PW2312B
凭借极致的小型化优势，成为便携式设备、可穿戴电子产品的首选；而
PW2458
则以高效率、高稳定性著称，广泛应用于工业控制、智能家居、车载电子等对电源性能要求较高的领域。两款芯片分别从“空间紧凑”与“高效能”两个维度满足不同场景的电源设计需求。
LDO
核心原理与特性
线性稳压器（
LDO
）是电源设计中常用的稳压器件，其核心优势在于电路结构极简，仅需少量输入输出电容即可工作，且输出噪声极低。
需重点关注功耗公式：
P
耗
= (Vin - Vout)
×
Iout
。在高压差场景下，能量主要以热量形式损耗，因此选型时需结合实际压差与负载电流评估效率。
PW8600
：高压输入型
LDO
专为高压环境设计，支持宽电压输入范围。其应用电路极其简单，仅需配置输入输出电容即可稳定运行，极大简化了硬件设计流程。但在高输入输出压差工况下，功耗会随压差增大而显著增加，实际应用中需充分考虑散热设计。
PW75XX
：低功耗型
LDO
具备极低的静态工作电流，是电池供电设备待机模式的理想选择，能有效延长设备续航时间。虽然自身功耗极低，但依然遵循
LDO
的功耗规律，在高压差应用场景下仍会产生一定的功率损耗，需结合实际需求进行效率评估。
测试条件
芯片：
PW2153
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.92V
（锂电中值）
Vout
：
5.01V
Iout
：
3.0A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
680
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2153(SOP8)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
3.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2153
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.88V
（锂电中值）
Vout
：
5.01V
Iout
：
4.0A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
680
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2153(SOP8)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
4.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2153
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.89V
（锂电中值）
Vout
：
5.02V
Iout
：
4.5A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
680
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2153(SOP8)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
4.5A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2153
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.82V
（锂电中值）
Vout
：
12.03V
Iout
：
3.0A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
680
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2153(SOP8)
Vin
：
24.0V
Vout
：
12.0V
Iout
：
3.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2153
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.78V
（锂电中值）
Vout
：
12.02V
Iout
：
4.0A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
680
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2153(SOP8)
Vin
：
24.0V
Vout
：
12.0V
Iout
：
4.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2153
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.69V
（锂电中值）
Vout
：
12.03V
Iout
：
5.0A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
680
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2153(SOP8)
Vin
：
24.0V
Vout
：
12.0V
Iout
：
5.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2205
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.99V
（锂电中值）
Vout
：
3.31V
Iout
：
2.0A
电感
L
：
6.8
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2205(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
2.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2205
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.97V
（锂电中值）
Vout
：
3.31V
Iout
：
3.0A
电感
L
：
6.8
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2205(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
3.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2205
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.93V
（锂电中值）
Vout
：
3.32V
Iout
：
4.0A
电感
L
：
6.8
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2205(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
4.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2205
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.99V
（锂电中值）
Vout
：
5.12V
Iout
：
0.45A
电感
L
：
6.8
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2205(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
2.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2205
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.95V
（锂电中值）
Vout
：
5.12V
Iout
：
3.0A
电感
L
：
6.8
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2205(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
3.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2205
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.92V
（锂电中值）
Vout
：
5.13V
Iout
：
4.0A
电感
L
：
6.8
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2205(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
4.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2330
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.0V
（锂电中值）
Vout
：
3.3V
Iout
：
1.0A
电感
L
：
10
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2330(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
1.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2330
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.98V
（锂电中值）
Vout
：
3.26V
Iout
：
2.0A
电感
L
：
10
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2330(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
2.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2330
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.0V
（锂电中值）
Vout
：
3.3V
Iout
：
2.4A
电感
L
：
10
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2330(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
2.4A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2330
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.0V
（锂电中值）
Vout
：
5.13V
Iout
：
1.0A
电感
L
：
10
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2330(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
1.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2330
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.96V
（锂电中值）
Vout
：
5.13V
Iout
：
2.0A
电感
L
：
10
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2330(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
2.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2330
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.95V
（锂电中值）
Vout
：
5.13V
Iout
：
2.4A
电感
L
：
10
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2330(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
2.4A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2335
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.01V
（锂电中值）
Vout
：
3.4V
Iout
：
1.0A
电感
L
：
4.7
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2335(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
1.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2335
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.01V
（锂电中值）
Vout
：
3.47V
Iout
：
2.0A
电感
L
：
4.7
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2335(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
2.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2335
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.0V
（锂电中值）
Vout
：
3.54V
Iout
：
2.4A
电感
L
：
4.7
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2335(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
2.4A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2335
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.99V
（锂电中值）
Vout
：
5.18V
Iout
：
1.0A
电感
L
：
4.7
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2335(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
1.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2335
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.99V
（锂电中值）
Vout
：
5.22V
Iout
：
2.0A
电感
L
：
4.7
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2335(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
2.0A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2335
拓扑：异步
Buck
Vin
：
23.99V
（锂电中值）
Vout
：
5.28V
Iout
：
2.4A
电感
L
：
4.7
μ
H
Cin
：
100
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
2
fsw
：
1MHz
测试条件
芯片：
PW 2335(SOP8-EP)
Vin
：
24.0V
Vout
：
5.0V
Iout
：
2.4A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2312B
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.02V
（锂电中值）
Vout
：
3.3V
Iout
：
0.3A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
五十九、
PW2312B IC
温度热成像
@ Vin = 24V
测试条件
芯片：
PW 2312B(SOT23-6)
Vin
：
24.0V
Vout
：
3.3V
Iout
：
0.3A
环境温度：
25
℃
运行时间：
2 min
测试条件
芯片：
PW2312B
拓扑：异步
Buck
Vin
：
24.03V
（锂电中值）
Vout
：
3.31V
Iout
：
0.5A
电感
L
：
47
μ
H
Cin
：
47
μ
F
×
1
Cout
：
22
μ
F
×
1
fsw
：
1MHz
三、应用电路
(DC-DC Part 2)
四、应用电路
(LDO)
六、
PW2153
输出
5V/3A
测试
@ Vin = 24V
七、
PW2153 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
八、
PW2153
输出
5V/4A
测试
@ Vin = 24V
九、
PW2153 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
十、
PW2153
输出
5V/4.5A
测试
@ Vin = 24V
十一、
PW2153 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
十二、
PW2153
输出
12V/3A
测试
@ Vin = 24V
十三、
PW2153 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
十四、
PW2153
输出
12V/4A
测试
@ Vin = 24V
十五、
PW2153 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
十六、
PW2153
输出
12V/5A
测试
@ Vin = 24V
十七、
PW2153 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
十九、
PW2205
输出
3.3V/2.0A
测试
@ Vin = 24V
二十、
PW2205 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
二十一、
PW2205
输出
3.3V/3.0A
测试
@ Vin = 24V
二十二、
PW2205 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
二十三、
PW2205
输出
3.3V/4.0A
测试
@ Vin = 24V
二十四、
PW2815 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
二十五、
PW2205
输出
5V/2.0A
测试
@ Vin = 24V
二十六、
PW2205 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
二十七、
PW2205
输出
5V/3.0A
测试
@ Vin = 24V
二十八、
PW2205 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
二十九、
PW2205
输出
5V/4.0A
测试
@ Vin = 24V
三十、
PW2205 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
三十二、
PW2330
输出
3.3V/1.0A
测试
@ Vin = 24V
三十三、
PW2330 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
三十四、
PW2330
输出
3.3V/2.0A
测试
@ Vin = 24V
三十五、
PW2330 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
三十六、
PW2330
输出
3.3V/2.4A
测试
@ Vin = 24V
三十七、
PW2330 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
三十八、
PW2330
输出
5.0V/1.0A
测试
@ Vin = 24V
三十九、
PW2330 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
四十、
PW2330
输出
5.0V/2.0A
测试
@ Vin = 24V
四十一、
PW2330 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
四十二、
PW2330
输出
5.0V/2.4A
测试
@ Vin = 24V
四十三、
PW2330 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
四十五、
PW2335
输出
3.3V/1.0A
测试
@ Vin = 24V
四十六、
PW2335 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
四十七、
PW2335
输出
3.3V/2.0A
测试
@ Vin = 24V
四十八、
PW2335 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
四十九、
PW2335
输出
3.3V/2.4A
测试
@ Vin = 24V
五十、
PW2335 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
五十一、
PW2335
输出
5.0V/1.0A
测试
@ Vin = 24V
五十二、
PW2335 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
五十三、
PW2335
输出
5.0V/2.0A
测试
@ Vin = 24V
五十四、
PW2335 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
五十五、
PW2335
输出
5.0V/2.4A
测试
@ Vin = 24V
五十六、
PW2335 IC
温度热成像
@ Vin = 24V
五十八、
PW2312B
输出
3.3V/0.3A
测试
@ Vin = 24V
六十、
PW2312B
输出
3.3V/0.5A
测试
@ Vin = 30V
